磁性涂層測(cè)厚儀MikroTest - ElektroPhysik

• 更新時(shí)間：2019-08-20
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磁性涂層測(cè)厚儀MikroTest - ElektroPhysik
MikroTest是一種常堅(jiān)固的涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量鋼上非磁性涂層的厚度。MikroTest Ni系列的特殊型號(hào)測(cè)量鋼（MikroTest NiFe 50）和非鐵磁基底（MikroTest Ni 50和Ni 100）上的電鍍鎳涂層的厚度。

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磁性涂層測(cè)厚儀MikroTest - ElektroPhysik

篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)等多地區(qū)的合作伙伴，憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量?jī)x器、無(wú)損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量?jī)x等各類檢測(cè)設(shè)備，努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn)，共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

.作為*產(chǎn)品的進(jìn)口代理商而言，我們不但為廣大客戶提供詳細(xì)的售前咨詢工作，更注意完善售后服務(wù)。憑著行業(yè)之優(yōu)勢(shì)，信息之優(yōu)勢(shì)，產(chǎn)品之優(yōu)勢(shì)及價(jià)格之優(yōu)勢(shì)在市場(chǎng)開(kāi)發(fā)上取得的良好效應(yīng)；與各行各業(yè)的用戶朋友和廣大的經(jīng)銷商建立的良好而密切的業(yè)務(wù)聯(lián)系。

MikroTest是一種常堅(jiān)固的涂層測(cè)厚儀，可測(cè)量鋼上非磁性涂層的厚度。MikroTest Ni系列的特殊型號(hào)測(cè)量鋼（MikroTest NiFe 50）和非鐵磁基底（MikroTest Ni 50和Ni 100）上的電鍍鎳涂層的厚度。MikroTest耐溶劑，金屬外殼非常耐用。磁鐵及其對(duì)*ElectroPhysics制造工藝的持久耐用性，使其在數(shù)十年內(nèi)保持在公差值范圍內(nèi)。

MikroTest是過(guò)去40年來(lái)世界上使用廣泛的涂層測(cè)厚儀。 MicroTest符合所有模擬磁性涂層測(cè)厚儀的高技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。鋼上的所有非磁性涂層和鋼上的鍍鋅鎳。

MikroTest提供11種不同型號(hào)。平衡測(cè)量系統(tǒng)可在任何角度提供準(zhǔn)確讀數(shù)：水平，垂直和頭頂。因此，儀表允許在曲面上進(jìn)行測(cè)量。因此，由于自動(dòng)操作，可以在管道和圓形部件上為您提供準(zhǔn)確的測(cè)量。

涂層厚度的測(cè)量基于磁吸引力。吸引力與永磁體和鋼基板之間的距離有關(guān)。該距離表示測(cè)量中的涂層的厚度。借助于連接到磁鐵臂的彈簧將磁鐵從表面抬起。提升磁鐵所需的力與扭轉(zhuǎn)彈簧的旋轉(zhuǎn)角度直接相關(guān)。因此，該測(cè)量原理特別適用于銅，鋁和其他有色金屬上的電鍍鎳。該測(cè)量原理可確保全自動(dòng)測(cè)量。

功能描述（部分功能僅適用特定型號(hào)）
Mils型號(hào)包括NIST可溯源校準(zhǔn)證書(shū)，Micron型號(hào)包括工廠證書(shū)
準(zhǔn)確，操作簡(jiǎn)單
無(wú)需校準(zhǔn)
簡(jiǎn)單的設(shè)置和測(cè)量
所有儀表在沒(méi)有電源或電池的情況下運(yùn)行
一點(diǎn)測(cè)量
金屬外殼可防止機(jī)械沖擊
金屬外殼和測(cè)量系統(tǒng)耐溶劑
自動(dòng)模型控制磁鐵的發(fā)布，實(shí)現(xiàn)很高的精度和可重復(fù)性

高溫選擇
提供可選的高溫套件（MK-HT），用于使用高達(dá)212°F（100°C）的MicroTest型號(hào)。 因此，它可以在高達(dá)572°F（300°C）的表面溫度下使用。

環(huán)境溫度-20°C  -  100°C
符合標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 2178，DIN 50 982，ASTM B 499，E 376，D 1186，G 12，B 530，BS 5411，ISO 2361
尺寸規(guī)格：215mm x 55mm x 29mm塑料手提箱：235mm x 185mm x 46mm
重量箱包括儀表約。 560克
 

校準(zhǔn)墊片

以下是兩個(gè)技術(shù)原因，為什么你不能使用塑料墊片/箔加零板來(lái)檢查MicroTest的校準(zhǔn)：
1.所有塑料墊片/箔片都有一定的預(yù)應(yīng)力，當(dāng)磁鐵抬起時(shí)它們會(huì)略微彎曲，這種效果是不準(zhǔn)確的讀數(shù)
2.塑料墊片/箔片具有一定的靜電電荷，因此會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。