DualScope MP0黑色方塊形測厚儀

• 更新時間：2024-03-06
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DualScope MP0黑色方塊形測厚儀
Fischer具有豐富的經(jīng)驗(yàn)，是您可靠的合作伙伴，能為您提供創(chuàng)新的測量技術(shù)。菲希爾能提供多樣的產(chǎn)品種類，包括大量創(chuàng)新性的測試儀器，應(yīng)用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領(lǐng)域。您行業(yè)中各種應(yīng)用都可以在這里一站式地得到*解決，從而讓您能以Z高的度獲得可靠的測試結(jié)果。

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DualScope MP0黑色方塊形測厚儀

Fischer具有豐富的經(jīng)驗(yàn)，是您可靠的合作伙伴，能為您提供創(chuàng)新的測量技術(shù)。菲希爾能提供多樣的產(chǎn)品種類，包括大量創(chuàng)新性的測試儀器，應(yīng)用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領(lǐng)域。您行業(yè)中各種應(yīng)用都可以在這里一站式地得到*解決，從而讓您能以zui高的度獲得可靠的測試結(jié)果。

DualScope MP0黑色方塊形測厚儀是法國進(jìn)口的精密小型涂層測厚儀，小巧便攜，測量快速，雙面背光LCD顯示—大型顯示面板及機(jī)頂上顯示板-可以安全及方便地從任何角度看到測量鍍層厚度的讀數(shù)，利用符合DIN EN ISO 2178標(biāo)準(zhǔn)的電磁場感應(yīng)方法,可測量鋅、鉻、銅、油漆、光油、纖維等涂鍍層在鋼和鐵的材料上的厚度。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 無需校準(zhǔn)即可測量，在被測件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生較大改變時，單點(diǎn)校準(zhǔn)功能科修正這些影響，并在選定的測量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的測量

• 執(zhí)行簡易的零點(diǎn)校正（歸一化）在被測件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生小的改變時實(shí)現(xiàn)測量

• 統(tǒng)計(jì)功能（含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值和 zui小值）

• 快速的單手操作：將儀器放在工件上即可看到測量讀數(shù)

• 兩個背光LED顯示屏，可方便的在儀器的任何位置，甚至頂部看到數(shù)值

• 自動開機(jī)/關(guān)機(jī)功能

• 由于經(jīng)過加工處理以及采用了又硬質(zhì)鍍層的探頭，儀器經(jīng)久耐用

• 輕巧，包括電池在內(nèi)僅僅132克

• 可在所有金屬（鋼鐵或非鐵磁性金屬）基材上測量

• 儀器自動識別基材下的材并自動選擇相應(yīng)的測量方法

• 出色的重復(fù)精度

• 受基材透磁性，電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度）等影響

• 享有的電導(dǎo)率技術(shù)（電渦流法）

• 足夠小巧甚至可以在比較難接觸的區(qū)域進(jìn)行可靠的測量。

刪除校準(zhǔn)資料 / 恢復(fù)初始曲線

有時，如果經(jīng)過校準(zhǔn)后，儀器測量仍然不準(zhǔn)確，則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒有正確進(jìn)行的話，就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。

刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù) （前提：儀器必須打開）

• 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材") .

• 在底材上測量5次左右.

• 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1) .

• 在底材上測量1次.
  屏幕將顯示0左右的讀數(shù).

• 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
  屏幕將顯示 “0.00   STD1" .

• 按 [OK] 鍵?；謴?fù)到初始的特征曲線。
  恢復(fù)完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。

8  服務(wù)菜單

進(jìn)入服務(wù)菜單及設(shè)定方法：

• 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157"。

• 用[5]鍵設(shè)定到“159"。

• 按[OK]。屏幕顯示 FREE。

• 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號  (只可選 # 5 到 #10)

• 重復(fù)按[OK]選擇菜單內(nèi)容， 利用 [5]或 [6] 進(jìn)行設(shè)定。

• zui后按[OK]離開服務(wù)程序。

服務(wù)菜單# 5

(服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號沒有)