Form TalySurf Intra型粗糙度輪廓儀（FTS）

• 更新時(shí)間：2019-08-12
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Form TalySurf Intra型粗糙度輪廓儀（FTS）
Form TalySurf（簡(jiǎn)稱：FTS） Intra型粗糙度輪廓儀是英國(guó)泰勒霍普森有限公司在標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室產(chǎn)品Form Talysurf系列的基礎(chǔ)上開發(fā)的。適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和計(jì)量室使用。其前身產(chǎn)品型號(hào)為FTS Plus。

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篤摯儀器（上海）有限公司致力于長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測(cè)儀器，涂裝與表面處理檢測(cè)儀器的銷售與維護(hù)服務(wù)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員，為客戶提供方信守合同便，快捷的售前（演示設(shè)備、介紹技術(shù)）售中（為客戶選型、滿足客戶要求），售后服務(wù)（設(shè)備維護(hù)、保養(yǎng)問(wèn)題）在客戶需要的時(shí)候，我們的專業(yè)人員能夠即來(lái)到客戶現(xiàn)場(chǎng)，提供急需的服務(wù)。

Form Talysurf Intra經(jīng)濟(jì)型粗糙度輪廓儀系統(tǒng)介紹

       Form TalySurf（簡(jiǎn)稱：FTS） Intra型粗糙度輪廓儀是英國(guó)泰勒霍普森有限公司在標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室產(chǎn)品Form Talysurf系列的基礎(chǔ)上開發(fā)的。適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和計(jì)量室使用。其前身產(chǎn)品型號(hào)為FTS Plus。 

        FTS Intra的驅(qū)動(dòng)箱和傳感器的性能與Form Talysurf系列中的S3C型相同。區(qū)別是控制和數(shù)據(jù)分析部分。Form Talysurf系列采用計(jì)算機(jī)控制分析。FTS Intra采用PDA控制處理器，為觸摸式屏幕?？娠@示控制菜單和分析結(jié)果(圖形和參數(shù))等?？刂品治鰡卧獙?duì)驅(qū)動(dòng)單元可連線控制，也可紅外遙控。

Form Talysurf Intra經(jīng)濟(jì)型粗糙度輪廓儀主要特點(diǎn)

       表面的彎曲、傾斜、粗糙程度與波紋度相互影響，對(duì)于需要同時(shí)測(cè)量尺寸、形狀與表面粗糙度的場(chǎng)合，便攜式表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)xFTS Intra提供了一次性測(cè)量的解決方法。
       通過(guò)測(cè)針在測(cè)量表面上的一次測(cè)量，來(lái)評(píng)估這些元素。
*
        承續(xù)了泰勒霍普森產(chǎn)品家族里的優(yōu)秀品質(zhì)，便攜式表面粗糙度輪廓測(cè)量?jī)xFTS Intra 仿佛一位優(yōu)秀的表面測(cè)量工程師，在任何你需要的場(chǎng)合，給您提供的支持。
簡(jiǎn)單便攜
        FTS Intra 既可以通過(guò)PDA 控制處理器攜帶到任何工作場(chǎng)合去工作，控制分析單元對(duì)驅(qū)動(dòng)單元可連線控制，也可紅外遙控；也可以通過(guò)與電腦的對(duì)接，測(cè)量的數(shù)據(jù)直接傳輸至計(jì)算機(jī)，由Ultra 軟件對(duì)儀器進(jìn)行控制及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的分析。作為標(biāo)準(zhǔn)計(jì)量室內(nèi)的檢測(cè)設(shè)備。
        我們可以非常容易地把它從計(jì)量室?guī)У焦ぷ鞯攸c(diǎn)，即使是臨時(shí)的操作員也可以非常簡(jiǎn)單地進(jìn)行操作，并得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。當(dāng)然，由于*的設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)而易行的操作，您幾乎不用妨礙到生產(chǎn)的進(jìn)度，就可以非常*地完成這些您所需要的表面形狀與粗糙度的檢測(cè)。

Form Talysurf Intra經(jīng)濟(jì)型粗糙度輪廓儀技術(shù)參數(shù)

(1) 傳感器類型： 電感 
(2) 測(cè)量量程：1mm (同時(shí)測(cè)量粗糙度和輪廓，使用60mm長(zhǎng)測(cè)桿) 2mm (使用120mm長(zhǎng)測(cè)桿，選購(gòu)) 
(3) 分辨率： 1mm量程時(shí)16nm，0.2mm量程時(shí)3.2nm 
(4) 量程與分辨率之比： 65,536:1 
(5) 測(cè)量力： 0.7-1mN