Surtronic DUO粗糙度儀是一款*符合ISO標(biāo)準(zhǔn)的新產(chǎn)品，是評定零件表面質(zhì)量的多用途便攜式儀器，具有符合多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)的多個(gè)參數(shù)，可對多種零件表面的粗糙度、波紋度和原始輪廓進(jìn)行多參數(shù)評定，可測量平面、外圓柱面、內(nèi)孔表面等。
　　Surtronic DUO粗糙度儀在Win操作系統(tǒng)下界面十分友好穩(wěn)定。測量軟件符合粗糙度定義，可高精度的工作；使用簡單方便，能在計(jì)算機(jī)內(nèi)貯存測量結(jié)果、數(shù)據(jù)、圖形；編輯統(tǒng)計(jì)平均值等測量數(shù)據(jù)，便于網(wǎng)絡(luò)傳輸。
　　隨著工業(yè)的發(fā)展和對外開放與技術(shù)合作的需要，我國對表面粗糙度的研究和標(biāo)準(zhǔn)化愈來愈被科技和工業(yè)界所重視，為迅速改變國內(nèi)表面粗糙度方面的術(shù)語和概念不統(tǒng)一的局面，并達(dá)到與統(tǒng)一的作用，我國等效采用標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)制訂了GB《表面粗糙度術(shù)語表面及其參數(shù)》。專門對有關(guān)表面粗糙度的表面及其參數(shù)等術(shù)語作了規(guī)定，其中有三個(gè)部分共27個(gè)參數(shù)術(shù)語：與微觀不平度高度特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語。其中定義的常用術(shù)語為：輪廓算術(shù)平均偏差Ra、輪廓均方根偏差Rq、輪廓zui大高度Ry和微觀不平度十點(diǎn)高度Rz等11個(gè)參數(shù)。
　　Surtronic DUO粗糙度儀表面形貌評定的核心在于特征信號(hào)的無失真提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當(dāng)今微機(jī)處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機(jī)電一體化技術(shù)等的發(fā)展，出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時(shí)間序列技術(shù)分析法、zui小二乘多項(xiàng)式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，取得了顯著進(jìn)展。